Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/271022
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБорздов, А. В.
dc.contributor.authorБорздов, В. М.
dc.date.accessioned2021-10-28T08:18:40Z-
dc.date.available2021-10-28T08:18:40Z-
dc.date.issued2021
dc.identifier.citationВзаимодействие излучений с твердым телом : материалы 14-й Междунар. конф., посвящ. 100-летию Белорус. гос. ун-та, Минск, Беларусь, 21-24 сент. 2021 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2021. – С. 23-25.
dc.identifier.issn2663-9939 (Print)
dc.identifier.issn2706-9060 (Online)
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/271022-
dc.descriptionСекция 1. Процессы взаимодействия излучения и плазмы с твердым телом = Section 1. Processes of Radiation and Plasma Interaction with Solids
dc.description.abstractПроведено самосогласованное моделирование на основе многочастичного метода Монте-Карло фототока кремниевого фотодетектора со структурой металл-полупроводник-металл при воздействии пикосекундного импульса лазерного излучения с длиной волны 650 нм интенсивностью 10 10 Вт/м2. Исследован фотоотклик детекторов с омическими контактами и контактами с барьером Шоттки. Установлено, что время затухания фототока в структуре с барьером Шоттки меньше, чем в структуре с омическими контактами
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleМоделирование методом Монте-Карло кремниевого фотодетектора со структурой металл-полупроводник-металл
dc.title.alternativeMonte Carlo simulation of silicon photodetector with metal-semiconductor-metal structure / A.V. Borzdov, V.M. Borzdov
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeSelf-consistent ensemble Monte Carlo simulation of photocurrent in silicon photodetector with metal-semiconductor-metal structure is performed. Photocurrent is simulated for picosecond laser irradiation with 650 nm wavelength and intensity of 10 10 W/m2. The lattice temperature is 300 K. The structures with ohmic contacts and contacts with Schottky barriers are considered. To provide an ohmic contacts the silicon regions under metal contacts are supposed to be doped by donor impurity at 10 23 m –3 level, while for Schottky contacts semiconductor is supposed to be pure. The spacing between contacts is 0.5 µm, the width of the absorbing silicon layer is 0.5 µm. The laser irradiation is supposed to be uniform in space and time. Only intrinsic absorbtion is regarded. The simulation shows that the photocurrent in the structure with Schottky contacts decays faster than in the structure with ohmic contacts
Располагается в коллекциях:2021. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
23-25.pdf338,8 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.