Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/264980
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Азарко, И. И. | - |
dc.contributor.author | Лукашевич, М. Г. | - |
dc.contributor.author | Сидоренко, Ю. В. | - |
dc.contributor.author | Карпович, И. А. | - |
dc.contributor.author | Головчук, В. И. | - |
dc.date.accessioned | 2021-08-03T10:33:27Z | - |
dc.date.available | 2021-08-03T10:33:27Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.other | Рег. № НИР 20190538 | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/264980 | - |
dc.description.abstract | Объектами исследования являются композитные материалы на основе порошков ультрадисперсных алмазов и нитрида бора с введением алюминия, наноструктурированный композиционный материал, полученный методом ионно-лучевой обработки оксид цинка ионами кобальта, проводящая пермаллоевая пленка с магнитным упорядочением и кристаллы алмаза, подвергнутые высокоэнергетичной обработке. Цель проекта состояла в исследовании спектроскопических, электрических и гальваномагнитных характеристик композитных материалов, полученных спеканием при высоком давлении или ионно-лучевыми технологиями, с разными механизмами переноса электронов и разным магнитным состоянием. В результате исследований было установлено снижение величины пропускания в монокристаллических пластинках оксида цинка, имплантированных ионами Co+ с энергией 40 кэВ и возростание коэффициента отражения с ростом дозы имплантации. Показано, что полосы поглощения в диапазоне 550–680 нм характерны для оптически активных ионов Со2+, находящихся в позициях замещения катионов цинка в матрице ZnO. Узкая полоса отражения при l = 375 нм в спектрах отражения ZnO обусловлена экситонным отражением. Разработана трехслойная модель, в которой первый поверхностный слой содержит нановключения кобальта, второй более заглубленный слой представляет собой твердый раствор замещения ионов кобальта в матрице ZnO и третий слой – оставшаяся, необлученная часть матрицы. Определены эффективные значения показателей преломления двух слоев оксида цинка, содержащих имплантированную примесь кобальта в различном фазовом состоянии. Разработана методика формирования многослойных наноразмерных структур с различными показателями преломления посредством ионной имплантации полупроводниковой матрицы оксида цинка. Актуальность данных структур обусловлена необходимостью создания новых устройств магнитооптики и спинтроники, оперирующих не только на основе гигантского магниторезистивного эффекта из-за спин-зависимых процессов электронного рассеяния или туннелирования, но и на основе магнитооптических эффектов, поскольку спиновым состоянием таких устройств можно управлять поляризованным электромагнитным излучением. Полученные результаты внедрены в учебный процесс кафедры физики полупроводников и наноэлектроники в качестве лабораторной работы цикла «Современные методы исследований». | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Химическая технология. Химическая промышленность | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника | ru |
dc.title | Диагностика парамагнитных и оптических характеристик композиционных материалов с полупроводниковыми свойствами и сформированных при воздействии высоких давлений микрокристаллов алмаза и кубического нитрида бора : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель И. И. Азарко | ru |
dc.type | report | ru |
dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
Располагается в коллекциях: | Отчеты 2020 |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Отчет 20190538 Азарко.docx | 1,61 MB | Microsoft Word XML | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.