Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/25398| Заглавие документа: | Интенсивности рассеяния вторичных дырок в N-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторов |
| Авторы: | Борздов, В. Н. Галенчик, В. О. Жевняк, О. Г. Зезюля, А. В. Комаров, Ф. Ф. Малышев, В. С. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2003 |
| Издатель: | БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Радиофизика и электроника.Сборник научных трудов |
| Серия/Номер: | Выпуск 6; |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/25398 |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики и аэрокосмических технологий. Статьи |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.