Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 174

Всего просмотров за месяц

января 2025 февраля 2025 марта 2025 апреля 2025 мая 2025 июня 2025 июля 2025
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 15 2 1 7 1 3 4

Загрузок файла

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon.pdf 243

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 97
Канада 19
Россия 12
Беларусь 10
Украина 9
Китай 5
Германия 3
Чехия 2
Япония 2
Австралия 1

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Ashburn 29
Fairfield 21
Ottawa 19
Houston 10
Cambridge 9
Minsk 9
Moscow 5
Oakland 5
San Diego 5
Wilmington 4