Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 210

Всего просмотров за месяц

апреля 2025 мая 2025 июня 2025 июля 2025 августа 2025 сентября 2025 октября 2025
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 7 1 3 5 4 30 1

Загрузок файла

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon.pdf 258

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 129
Канада 19
Россия 12
Беларусь 10
Украина 9
Китай 6
Германия 4
Япония 3
Чехия 2
Аргентина 1

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 38
Ashburn 29
Fairfield 21
Ottawa 19
Cambridge 9
Minsk 9
Moscow 5
Oakland 5
San Diego 5
Wilmington 4