Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 237

Всего просмотров за месяц

июня 2025 июля 2025 августа 2025 сентября 2025 октября 2025 ноября 2025 декабря 2025
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transition 0 5 4 30 9 11 8

Загрузок файла

Просмотров
Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon.pdf 287

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 130
Канада 22
Россия 18
Япония 11
Беларусь 10
Китай 9
Украина 9
Австралия 4
Германия 4
Чехия 2

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Houston 38
Ashburn 29
Ottawa 22
Fairfield 21
Tokyo 11
Cambridge 9
Minsk 9
Moscow 6
Oakland 5
San Diego 5