Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/248638
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorОразаев, В. С.
dc.contributor.authorЛеонтьев, А. В.
dc.date.accessioned2020-09-24T12:32:37Z-
dc.date.available2020-09-24T12:32:37Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationКомпьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2020) : материалы II Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 23–24 апр. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Скакун (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 84-88.
dc.identifier.isbn978-985-566-942-6
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/248638-
dc.descriptionCекция «Компьютерное моделирование процессов и систем»
dc.description.abstractПредставлены, рассчитанные с помощью программного комплекса SRIM-2013, значения коэффициента распыления Si ионами He, Ne, Ar, Kr и Xe при энергиях 1, 5, 10, 20, 40, 60, 80 и 100 кэВ. Проведена оценка глубины зарождения распыленных атомов
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Кибернетика
dc.titleМоделирование методом Монте−Карло физического распыления твёрдых тел
dc.typeconference paper
Располагается в коллекциях:2020. Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2020)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
84-88.pdf1,11 MBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.