Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/241888
Title: | Радиационная стойкость керамики на основе нано- и поликристаллического нитрида кремния : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. В. Углов |
Authors: | Углов, В. В. Злоцкий, С. В. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Энергетика ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Механика ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия |
Issue Date: | 2020 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Abstract: | Объектами исследования служили образцы нитрида кремния, облученного высокоэнергетическими ионами. Целями настоящего проекта являются исследование изменения фазового состава, микроструктуры и твердости керамики на основе нано- и поликристаллического нитрида кремния, облученного высокоэнергетическими ионами, а также установление механизмов трекообразования в данной системе. В результате методом рентгенофазового анализа выявлена стабильность структурно-фазового состояния керамики Si3N4, облученной ионами Bi c энергией 700 МэВ и дозами до 1ẞ1012 см-2. При дозе облучения ионами Bi свыше 5×1012 см-2 выявлены аморфизация ẞ-Si3N4, а также рост макро- и микронапряжений. Исследования твердости керамики Si3N4, облученной высокоэнергетическими ионами, показали, что для ионов Kr (107 МэВ) и Bi (710 МэВ) происходит радиационное упрочнение (увеличение твердости) при дозах до 1×1014 см-2 для Kr и до 5×1012 см-2 для Bi и уменьшение твердости при больших дозах, связанное с аморфизацией структуры. Облучение ионами Xe (167 МэВ) приводит только к уменьшению твердости в диапазоне доз от 5×1012 до 5×1014 см-2. |
URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/241888 |
Registration number: | Рег. № НИР 20192545 |
Appears in Collections: | Отчеты 2020 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Отчет 20192545 Углов.docx | 2,56 MB | Microsoft Word XML | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.