Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/237057
Title: Оптические и электрические свойства пленок полупроводниковых многокомпонентных халькогенидных соединений : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель М. С. Тиванов
Authors: Тиванов, М. С.
Трофимова, А. В.
Дроздов, Н. А.
Колесов, Е. А.
Королик, О. В.
Рублевская, О. Н.
Тикото, С. Э.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Химическая технология. Химическая промышленность
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроение
Issue Date: 2018
Publisher: Минск : БГУ
Abstract: Объектами исследования являлись тонкие пленки полупроводниковых халькогенидных многокомпонентных соединений, предметом НИР – структура, оптические и фотоэлектрические свойства пленок, а также методы определения их оптических свойств. Цель работы: установление особенностей структуры, оптических и фотоэлектрических свойств пленок в зависимости от условий их синтеза, а также разработка новых подходов к определению их оптических характеристик. В результате установлены закономерности формирования структуры, оптических и фотоэлектрических свойств тонких пленок SnSSe, Cu2ZnSnSe4, Cu2ZnSnS4, ZnO, Cu2SnS3, In2S3 в зависимости от технологических режимов синтеза, использованных подложек и модифицирующих обработок; найдены режимы, позволяющие получать однофазные пленки, удовлетворяющие критериям эффективного фотоэлектрического преобразования; в рамках модифицированной модели Шокли-Квайссера, учитывающей спектральную зависимость коэффициента поглощения света, рассчитан предельно достижимый КПД солнечного элемента с p-n-переходом в зависимости от ширины запрещенной зоны материала и толщины поглощающего слоя; предложен метод определения показателя преломления и ширины запрещенной зоны полупроводниковых пленок, основанный на измерении спектров отражения света при различных углах падения света (метод апробирован на пленках сульфида-селенида кадмия); экспериментально продемонстрирована возможность корректного определения спектральных зависимостей коэффициента оптического поглощения для полупроводниковых пленок из спектров их фотоакустического отклика (метод апробирован на тонких пленках CuIn(Te0.7Se0.3)2)
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/237057
Registration number: № госрегистрации 20161884
Appears in Collections:Отчеты 2018

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Отчет 20161884 Тиванов.doc20,78 MBMicrosoft WordView/Open
Show full item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.