Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/236398
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМазаник, А. В.-
dc.contributor.authorКазючиц, Н. М.-
dc.contributor.authorКазючиц, В. Н.-
dc.contributor.authorКоролик, О. В.-
dc.contributor.authorРусецкий, М. С.-
dc.date.accessioned2019-12-19T12:41:54Z-
dc.date.available2019-12-19T12:41:54Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.other№ госрегистрации 20191137ru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/236398-
dc.description.abstractОбъектом исследования являлись пластины синтетического алмаза, подвергнутые облучению высокоэнергетическими электронами, имплантации бора и последующим термообработкам. Цель НИР: модификация оптических и фотоэлектрических свойств синтетических алмазов посредством облучения высокоэнергетическими электронами и последующих термообработок, а также установление влияния радиационных дефектов на время жизни неравновесных носителей заряда. В результате установлено, что спектры пропускания электроннооблученных кристаллов алмаза после термообработки при 1450 оС демонстрируют особенность, связанную с собственным поглощением, и слабо зависят от флюенса электронов. В спектрах комбинационного рассеяния света наблюдается лишь однофононная полоса, положение и спектральная ширина которой не зависят от флюенса электронов и соответствуют материалу с высокой степенью структурного совершенства. Спектры катодолюминесценции содержат экситонную линию, интенсивность которой монотонно уменьшается с ростом флюенса электронов, что указывает на неполный отжиг радиационных дефектов в результате термообработки при 1450 оС. Картирование спектров фотолюминесценции по латеральной поверхности имплантированного бором кристалла алмаза показывает монотонное уменьшение интенсивности фотолюминесценции NV0 полосы с глубиной. Толщина области, в которой регистрируется NV0 полоса, составляет несколько десятков микрометров и приблизительно коррелирует с толщиной области, в которой наблюдается уменьшение времени жизни неравновесных носителей заряда. Спектры фотопроводимости демонстрируют две характерные области: высокоэнергетичную (с максимумом на длине волны 220 нм), соответствующую собственной фотопроводимости, и низкоэнергетичную (до 500 нм), соответствующую азотсодержащим дефектам типа. Соотношение интенсивности сигнала фотопроводимости для этих двух областей линейно растет с ростом флюенса электронов.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Геологияru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleМодификация оптических и фотоэлектрических свойств электроннооблученных синтетических алмазов посредством термических воздействий : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель А. В. Мазаникru
dc.typereportru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Располагается в коллекциях:Отчеты 2019

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Отчет 20191137 Мазаник.doc4,79 MBMicrosoft WordОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.