Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/236075
Заглавие документа: | ТРАНСФОРМАЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ И СОСТОЯНИЯ ВОДОРОДА ПРИ ТЕРМООБРАБОТКЕ ГИДРОГЕНИЗИРОВАННОГО КРЕМНИЯ |
Авторы: | Покотило, Ю. М. Петух, А. Н. Смирнова, О. Ю. Стельмах, Г. Ф. Маркевич, В. П. Королик, О. В. Свито, И. А. Saad, A. M. |
Дата публикации: | мар-2019 |
Издатель: | Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси |
Библиографическое описание источника: | ЖУРНАЛ ПРИКЛАДНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ Т.86, № 5 2019 с. 735-738 |
Аннотация: | Исследования были проведены на эпитаксиальных плёнках кремния толщиной 55 мкм, легированных фосфором с удельным сопротивлением ρ=1 Ом.см. Образцы обрабатывались высокочастотной (13,56 МГц) водородной плазмой при температуре подложки 150 оС в течение 10 часов. Последующий отжиг проводился на воздухе при температуре 275 оС в течение 20 мин. Состояние водорода и структурных дефектов изучались методами комбинационного рассеяния света (КРС) и сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Концентрация носителей заряда определялась из измерений эффекта Холла. Установлено, что после обработки в плазме наблюдаются комбинационные полосы при 2095 и 2129 см-1, связанные с рассеянием на колебаниях связей Si-H. Последующая термообработка (275 оС) приводит к появлению полосы колебаний молекулярного водорода в газообразном состоянии с частотой 4153 см-1. Показано, что концентрация свободных носителей заряда остается неизменной после обработки в плазме и последующей термообработки. Из сопоставления данных КРС и СЗМ следует, что в результате гидрогенизации формируются дискообразные дефекты средним размером 43 нм и поверхностной плотностью 6,5.109 см-2, обусловленные скоплением связей Si-H . После термообработки образуются более масштабные включения со средним размером 115 нм и поверхностной плотностью 1,7.109 см-2, заполненные молекулярным водородом |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/236075 |
ISSN: | 0514-7560 |
Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
ЖПС-Si-H-2019.pdf | 399,17 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.