Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/233892Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Дешковская, А. А. | |
| dc.date.accessioned | 2019-11-13T10:39:36Z | - |
| dc.date.available | 2019-11-13T10:39:36Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids : материалы 13-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 30 сент. – 3 окт. 2019 г. / редкол.: В. В. Углов (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2019. – С. 143-146. | |
| dc.identifier.issn | 2663-9939 | |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/233892 | - |
| dc.description | Секция 2. Радиационные эффекты в твердом теле = Section 2. Radiation Effects in Solids | |
| dc.description.abstract | Данная работа является продолжением серии исследований, проводимых автором по ионно-лучевому синтезу стекол (синтезу стекла в стекле). Изучена возможность создания двухкомпонентных стекол типа mRxOy -nSiO2 внутри исходных кварцевых стекол (R- химический элемент внедренной примеси). Имплантируемые ионы: Cr+, Ag+, In+, Ar+, Xe+. Энергия ионов 30-300 КэВ, флюэнс 10 15 – 10 18 см-2, плотность тока <1мкА/см2. Для анализа модифицированных слоев стекол использовались спектроскопические методы (ИКСО) и (МНПВО). Рельеф поверхности образцов изучался с помощью атомного силового микроскопа (AFM). За меру химического взаимодействия внедренных примесей с атомами стекла принята величина частотного сдвига максимума основной полосы при 1122 см-1 в ИКСО. | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Спектральные особенности ионно-модифицированных слоев в кварцевых стеклах после имплантации Cr+, Ag+, In+, Ar+, и Xe+ | |
| dc.title.alternative | Spectral Peculiarities of Ion-Modificated Layers in Quartz Glasses After Cr+, Ag+, In+, Ar+, and Xe+ Implantation / Аlla Deshkovskaya | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | This work is a continuation of a series of studies conducted by the author on the ion-beam synthesis of glasses (the synthesis of glass in glass). As a result of implantation of ions Cr+, Ag+, In+, Ar+ and Xe+ into initial quartz glasses at different depth from the surface in them there have been formed the layers of two-component glasses of the type mRxOy -nSiO2, where R is chemical element of implanted impurities. Energy of the bombarding was 30–300 KeV with fluence of 10 15 – 10 18 cm-2, current density < 1 μA/ cm2. To receive information of the presence of ion-beam synthesis was used spectroscopic methods IRRS and FTIR. In spectral area 400–1900 cm-1 silicate glasses have two characteristic bands: with maxima at 1121 cm-1 and 475 cm-1. The first band from them characterized valence bond oscillation Si-O-Si, and second band – deformational oscillations of bond Si-O. Them position and intensity are very sensitive to any change of environment of atomic grouping Si-O-Si. Therefore, these bands of reflection have the greatest interest for studying ion synthesis. The shift observed simultaneously with decrease of intensity of the maximum of basic band at 1121 cm-1 into long-wave area after implantation is the indication of chemical interaction of introduced impurities with environment i.e. it indicates the presence of ion synthesis in quartz glass. The efficiency of ion-beam synthesis increase with increase of ions fluence and energy. By studying of glasses surface relief by means of AFM was found spherical area. Them quantity and size increase with increase of fluence. | |
| Располагается в коллекциях: | 2019. Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 143-146.pdf | 397,96 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.