Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/233842| Заглавие документа: | Импульсное лазерное осаждение наноразмерных пленок из мишени CuO: морфология и оптические свойства |
| Другое заглавие: | Pulsed Laser Deposition of Nano-Sized Thin Films from Copper Oxide Target: Morphology and Optical Properties / S.T. Pashayan, K.E. Avjyan, V.M. Anishchik |
| Авторы: | Пашаян, С. Т. Авджян, К. Е. Анищик, В. М. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids : материалы 13-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 30 сент. – 3 окт. 2019 г. / редкол.: В. В. Углов (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2019. – С. 477-480. |
| Аннотация: | Методом вакуумного импульсного лазерного осаждения из керамической мишени CuO выращены тонкие пленки наноразмерной толщины на подложках из стекла и сапфира. Для определения характеристик полученных пленок применялись оптические методы и методы сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), рентгеновского энергодисперсионного анализа и измерения шероховатости поверхности. Исследовано влияние температуры роста и отжига на состав полученных пленок, шероховатость поверхности и их способность к поглощению света. Показано, что пленки, предварительно осажденные в диапазоне температур подложки до 400 °С, имеют шероховатость поверхности не более 6 нм. После отжига сильно развитая поверхность пленки сглаживается и на ней присутствуют частицы довольно крупных размеров (порядка толщины пленки), а шероховатость увеличивается до 17 нм. Отжиг пленок приводит также к уменьшению поглощения в длинноволновой части оптического диапазона (при λ > 750 нм). Полученные результаты могут быть использованы для разработки устройств оптоэлектроники и солнечных элементов. |
| Аннотация (на другом языке): | Vacuum pulsed laser deposition from CuO target was used to grow thin films of nanoscale thickness on glass and sapphire substrates. To determine the characteristics of the films obtained, optical methods and methods of scanning electron microscopy (SEM), X-ray energy dispersive analysis (EDX), and surface roughness measurements were used. SEM images confirm the preparation of tightly packed structures with an average grain size of up to 1 μm. According to EDX analysis, the composition of the films obtained is close to the composition of copper oxide CuO. The effect of the growth temperature and annealing on the surface roughness of the obtained films and their ability to absorb light was investigated. It is shown that films as deposited in the temperature range of the substrate up to 400 ° C have a surface roughness of no more than 6 nm. After annealing, the film surfaces is highly developed and smoothed, and the presence of particles of rather large sizes (about the film thickness) is detected on it and the surface roughness increases to 17 nm. Before annealing, films deposited on glass and sapphire substrates demonstrate the same character of the spectral dependence of absorption, regardless of the growth temperature, both at room temperature and at 400 ° C. At the same time, annealing of the films leads to a decrease in the absorption in the long-wavelength part of the optical range (at λ> 750 nm) for all samples. The results obtained, can be used to develop optoelectronic devices and solar cells. |
| Доп. сведения: | Секция 5. Влияние излучений на структуру и свойства покрытий = Section 5. Radiation Influence on Coatings Structure and Properties |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/233842 |
| ISSN: | 2663-9939 |
| Располагается в коллекциях: | 2019. Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 477-480.pdf | 594,87 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.