Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/232591
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКозодоев, С. В.
dc.contributor.authorГлинник, М. А.
dc.date.accessioned2019-10-17T12:21:56Z-
dc.date.available2019-10-17T12:21:56Z-
dc.date.issued2019
dc.identifier.citation76-я научная конференция студентов и аспирантов Белорусского государственного университета [Электронный ресурс] : материалы конф. В 3 ч. Ч. 1, Минск, 13–24 мая 2019 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Г. Сафонов (пред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2019. – С. 173-176.
dc.identifier.isbn978-985-566-808-5; 978-985-566-809-2 (ч. 1)
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/232591-
dc.descriptionФакультет радиофизики и компьютерных технологий
dc.description.abstractВ данной работе были получены и исследованы выпрямляющие структуры с барьером Шоттки на основе эпитаксиальных слоев карбида кремния (SiC). Установлено, что при отжиге улучшаются вольт-амперные характеристики (ВАХ) структур за счет образования силицида.
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
dc.titleФормирование контактов к эпитксиальным слоям карбида кремния
dc.typeconference paper
Располагается в коллекциях:2019. Научная конференция студентов и аспирантов БГУ. В трех частях

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
173-176.pdf583,75 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.