Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/223929Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Литвинов, Д. И. | - |
| dc.contributor.author | Тульев, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-16T09:34:06Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-16T09:34:06Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Сборник научных работ студентов Республики Беларусь "НИРС 2013" / редкол. : А. И. Жук (пред.) [и др.]. - Минск : Изд. центр БГУ, 2014. - С. 26-27 | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-553-227-0 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/223929 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : Изд. центр БГУ | ru |
| dc.title | Изучение Сu/Al и Pd/Fе структур, полученных методом динамического атомного перемешивания | ru |
| dc.type | article | ru |
| dc.description.alternative | Rutherford backscattering and RUMP simulation programmer have been applied to investigate composition of Сu/Al and Pd/Fe systems. They were prepared using dynamic atomic deposition process, when deposition of thin Сu (Pd) film on Al (Fe) substrate was assisted with irradiation Ar + ions. The thickness of Cu film was ∼(10−15) nm, of Pd film - ∼(14−23) nm. It was found, that the thickness of coating depends on parameter I / A (ratio the number I of assisting ions to the number A of atoms deposited coating) | ru |
| Располагается в коллекциях: | Сборник научных работ студентов Республики Беларусь "НИРС 2013" | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.