Logo BSU

Просмотр "2008. Материалы и структуры современной электроники" Заглавия

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 68 - 73 из 73 < предыдущий 
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2008Электрически активные дефекты, содержащие вакансии и атомы кислорода в облученных кристаллах германияМаркевич, В. П.; Мурин, Л. И.; Литвинов, В. В.
2008Электрические и оптические свойства пленок ZnO, легированных Eu И Er, на подложке кремнияМалютина-Бронская, В. В.; Залесский, В. Б.; Леонова, Т. Р.; Мудрый, А. В.
2008Электрические свойства нанокомпозитов SiO2-y-Fe2O3Адакимчик, А. В.; Горбачук, Н. И.; Ивановская, М. И.; Котиков, Д. А.; Лукашевич, М. Г.; Сидоренко, Ю. В.
2008Электрические характеристики пленок полиимида, имплантированных ионами немагнитных металловВолобуев, В. С.; Лукашевич, С. М.; Хайбуллин, Р. И.; Валеев, В. Ф.
2008Электрофизические свойства наноструктур Si / SiO2 / металл, полученных с помощью технологии быстрых тяжелых ионовПетров, А. В.; Канюков, Е. Ю.; Демьянов, С. Е.; Федотов, А. К.; Свито, И. А.; Fink, D.
2008ЭПР-диагностика углеродных пленок, структурированных на стеклеАзарко, И. И.; Гончаров, В. К.; Гусаков, Г. А.; Карпович, И. А.; Оджаев, В. Б.; Пузырев, М. В.; Толстых, П. В.