Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/215272
Заглавие документа: Диагностика методами ЭПР и КРС процессов наноструктурирования в облученных нейтронами зернах природного алмаза, отожженных при высоких температурах
Другое заглавие: Diagnostics by the EPR and RS methods of nanostructuring processes in irradiated neutrons of natural diamond grains annealed at high temperatures / A. N. Oleshkevich, N. M. Lapchuk, Т. М. Lapchuk, O. V. Korolik
Авторы: Олешкевич, А. Н.
Лапчук, Н. М.
Лапчук, Т. М.
Королик, О. В.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2018
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10–12 окт. 2018 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 360-366.
Аннотация: Методами электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и комбинационного рассеяния света (КРС) при комнатной температуре исследованы образцы нейтронно-облученного алмаза, отожженные при высоких давлениях. Оптимальный режим восстановления кристаллической решетки алмаза в случае её почти полного разрушения нейтронным облучением, является отжиг при давлении 9,0 ГПа при любом из выбранных интервалов температур (в диапазоне от 400 °С до 1000 °С).
Аннотация (на другом языке): Samples of neutron-irradiated diamond annealed at high pressures were investigated by the methods of electron paramagnetic resonance and Raman scattering at room temperature. The optimal mode of diamond crystal lattice restoration in case of its almost complete destruction by neutron irradiation is annealing at a pressure of 9.0 GPa at any of the selected temperature ranges (in the range from 400 °C to 1000 °C).
Доп. сведения: Нанотехнологии, наноструктуры, квантовые явления. Наноэлектроника. Приборы на квантовых эффектах
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/215272
ISBN: 978-985-566-671-5
Располагается в коллекциях:2018. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
360-366.pdf787,16 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.