Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/215219
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Гусаков, Г. А. | |
dc.contributor.author | Шаронов, Г. В. | |
dc.date.accessioned | 2019-02-21T13:28:16Z | - |
dc.date.available | 2019-02-21T13:28:16Z | - |
dc.date.issued | 2018 | |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10–12 окт. 2018 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 154-157. | |
dc.identifier.isbn | 978-985-566-671-5 | |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/215219 | - |
dc.description | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках | |
dc.description.abstract | Исследовано влияние содержания никеля в катализаторе Ni-Fe-C на примесный состав выращиваемых кристаллов алмаза. Показано, что снижение содержания никеля в катализаторе с 70 до 30 % приводит к снижению содержания в выращиваемых кристаллах примеси азота в 5 раз. В кристаллах, выращенных в системах с содержанием никеля 40 % и менее, эта примесь не регистрируется оптическими методами. | |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | Минск : БГУ | |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
dc.title | Влияние состава ростовой шихты на содержание фоновых примесей в монокристаллах синтетического алмаза | |
dc.title.alternative | Influence of the composition of the growth batch on the impurities content in synthetic diamond single crystals / G. A. Gusakov, G. V. Sharonov | |
dc.type | conference paper | |
dc.description.alternative | The influence of the nickel content in the Ni-Fe-C catalyst on the impurity composition of the grown diamond crystals is studied. It is shown that a decrease in the nickel content in the catalyst from 70 to 30% leads to a decrease in the content of nitrogen in the synthetic diamond crystals by a factor of 5. In crystals grown in systems with a nickel content of 40% or less, this impurity is not detected by optical methods. | |
Располагается в коллекциях: | 2018. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
154-157.pdf | 494,1 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.