Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/208230
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЖданович, Н. Е.-
dc.contributor.authorМарченко, И. Г.-
dc.contributor.authorКарась, В. И.-
dc.date.accessioned2018-11-06T06:47:40Z-
dc.date.available2018-11-06T06:47:40Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.citationВзаимодействие излучений с твердым телом: материалы V междунар. науч. конф., 6-9 окт. 2003 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2003. — С. 251-253.ru
dc.identifier.isbn985-445-236-0; 985-445-235-2-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/208230-
dc.description.abstractВ работе приводятся результаты исследования влияния гамма-облучения Co60 на критические параметры p-n-p-n-структур обычных и запираемых тиристоров, изготовленных на ядерно-легированном кремнии. Установлено, что на зависимости du/dt(T), измеренной в интервале температур 77-410 К, до и после облучения наблюдаются максимумы при температуре 130-150 К для обоих типов структур и дополнительный максимум при температуре 300-370 К для запираемых p-n-p-n-структур. Наличие низкотемпературного максимума связано с эффектом прилипания основных носителей на уровень легирующей примеси. Наличие дополнительного максимума для запираемых p-n-p-n-структур обусловлено доминирующим влиянием времени жизни неравновесных носителей заряда в узкой p-базе. Приводятся также данные по влиянию шунтирования катодного р-n-перехода запираемых структур на стойкость к эффекту du/dt.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleВлияние гамма облучения на параметры кремниевых p-n-p-n-структурru
dc.title.alternativeThe gamma-irradiation influence on characteristics of silicon p-n-p-n-structures / N.E. Zhdanovich, I.G. Marchenko, V.l. Karasru
dc.typeconference paperru
dc.description.alternativeThe results of investigation of gamma irradiation Co60 influence on critical characteristics of p-n-p-n-structures of conventional and GTO-thyristors, manufactured on neutron-transmutation doped silicon are shown in this work. It is determined that on the dependence of du/dt(T), measured in temperature range of 77-410 K1 before and after irradiation maximums are observed at 130-150 K for both types of structures and additional maximum at 300-370 K for GTO p-n-p-n-structures. It is shown that the first maximum is due to majority carriers trapping on doping impurity levels. The second additional maximum for GTO-structures is due to dominant influence of non-equilibrium charge carriers in narrow p-base of this structures. The data on influence of cathode p-n-junction of GTO-structures on their tolerance to du/dt effect are shown as well.ru
Располагается в коллекциях:2003. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
251-253.pdf2,83 MBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.