Ионизационные процессы и электрическая прочность ускоряющего промежутка источника электронов с плазменным эмиттером большого сечения

Abstract

Численное моделирование показало, что процессы ионизации и подвижности поверхности эмитирующей плазмы оказывают существенное влияние на изменение электронно-оптических свойств промежутка ускорения. Это приводит к тому, что в электронно-оптических системах с плазменным эмиттером большого сечения, эмитирующая поверхность первичной плазмы, формируемая полем ускоряющего электрода, может совершать хаотические движения то по направлению к разрядной камере, то по направлению к ускоряющему электроду. Это увеличивает концентрацию митирующей плазмы за счет поглощения ионов и может служить условием снижения электрической прочности промежутка ускорения.