Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/204297
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКоршунов, Ф. П.-
dc.contributor.authorБогатырев, Ю. В.-
dc.contributor.authorЛастовский, С. Б.-
dc.contributor.authorКульгачев, В. И.-
dc.contributor.authorАнуфриев, Л. П.-
dc.contributor.authorРубцевич, И. И.-
dc.contributor.authorГолубев, Н. Ф.-
dc.date.accessioned2018-08-27T10:41:54Z-
dc.date.available2018-08-27T10:41:54Z-
dc.date.issued2001-
dc.identifier.citationВзаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 164-166ru
dc.identifier.isbn985-445-236-0-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/204297-
dc.description.abstractРассмотрены изменения основных параметров мощных биполярных транзисторных структур при воздействии электронов с энергией 4 МэВ и гамма-излучения Со. Определены доминирующие радиационные дефекты, влияющие на параметры структур.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleВлияние радиационных дефектов на параметры мощных биполярных транзисторных структурru
dc.title.alternativeInfluence of radiation defects on power bipolar transistor structures parameters / F.P.Korshunov, Yu.V.Bogatyrev, S.B.Lastovsky, V.I.Kulgachev, L.P.Anufriev, l.l.Rubtsevich, N.F.Golubevru
dc.typeconference paperru
dc.description.alternativeThe changes of main dynamic and static parameters of power transistor structures under 4 MeV electron and Co gamma-Irradiation have considered. Main radiation defects (A-centers, divacancles, other dopant-defect complexes) in n-collector layer have been determined by DLTS. The interrelationship between the dynamic transistor parameters and the dominant defect (A-center) concentration has been established.ru
Располагается в коллекциях:2001. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
164-166.pdf718,08 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.