Logo BSU

Статистика

Всего просмотров

Просмотров
Formation of buried high-resitant layers in silicon by two-step substoichiometric implantation of nitrogen IONS 105

Всего просмотров за месяц

января 2025 февраля 2025 марта 2025 апреля 2025 мая 2025 июня 2025 июля 2025
Formation of buried high-resitant layers in silicon by two-step substoichiometric implantation of nitrogen IONS 1 3 1 5 1 2 0

Загрузок файла

Просмотров
20-21.pdf 37
422420 2

ТОП-просмотров по странам

Просмотров
Соединенные Штаты 35
Россия 13
Канада 11
Беларусь 7
Китай 7
Япония 7
Украина 5
Германия 4
Индия 3
Вьетнам 2

ТОП-просмотров по городам

Просмотров
Ottawa 11
Falls Church 7
Minsk 7
Tokyo 7
Wilmington 6
Oakland 5
Menlo Park 4
Ann Arbor 2
Beijing 2
Blue Bell 2