Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:

Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 11.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2019Structural evolution and photoluminescence of SiO2 layers with Sn nanoclusters formed by ion implantationRomanov, I.; Komarov, F.; Milchanin, O.; Vlasukova, L.; Parkhomenko, I.; Makhavikou, M.; Wendler, E.; Mudryi, A.; Togambayeva, A.
2019Сравнение спектральных характеристик отражения вулканов Камчатки по данным авиационных и спутниковых измеренийБеляев, М.Ю.; Катковский, Л.В.; Силюк, О.О.; Беляев, Б.И.; Бручковская, С.И.; Иванов, Д.А.; Есаков, А.М.; Фокин, В.Е.
2019Structure and hardness evolution of silicon carbide epitaxial layers irradiated with He+ ionsPilko, V.V.; Komarov, F.F.; Budzynski, P.
2019Ambiguity in the definition of effective dielectric permittivity of layered heterogeneous mediumSerdyuk, V.M.; Titovitsky, J.A.
2019Method of additive regularization of field integrals in the problem of electromagnetic diffraction by a slot in a conducting screen, placed before a dielectric layerSerdyuk, V.M.
2019Кросс-калибровка данных "Фотоспектральной системы" с борта МКС в космическом эксперименте "Ураган"Беляев, М.Ю.; Беляев, Б.И.; Катковский, Л.В.; Ломако, А.А.; Мартинов, А.О.; Рязанцев, В.В.; Сармин, Э.Э.; Силюк, О.О.
2019Классификация водных объектов по спектрам, измеренным с борта МКС в космическом эксперименте "Ураган"Беляев, М.Ю.; Беляев, Б.И.; Катковский, Л.В.; Мартинов, А.О.; Сармин, Э.Э.; Силюк, О.О.; Чумаков, А.В.
2019Experimental study and modeling of silicon supersaturated with selenium by ion implantation and nanosecond-laser meltingKomarov, F.F.; Ivlev, G.; Zayats, G.; Komarov, A.; Nechaev, N.; Parkhomenko, I.; Vlasukova, L.; Wendler, E.; Miskiewicz, S.
2019Effects of nitrogen selective sputtering and flaking of nanostructured coating TiN, TiAlN, Tialyn, TiCrN, (TiHfzrVNB)n under helium ion irradiationKonstantinov, S.V.; Komarov, F.F.
2019Electrical and optical properties of SiO2 thin layers implanted with Zn ionsCzarnacka, K.; Koltunowicz, T.N.; Makhavikou, M.; Parkhomenko, I.; Komarov, F.F.