Поиск
Добавить фильтры:
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Результаты 1-1 из 1.
- назад
- 1
- далее
Найденные документы:
Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
---|---|---|---|
2014 | Threshold and criterion for ion track etching in SiO2layers grown on Si | Vlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Wesch, W.; Wendler, E.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsin, S. B. |
Просмотр
по виду документа