Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/169013
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorFedotov, A. S.-
dc.contributor.authorShepelevich, V.-
dc.contributor.authorPoznyak, S. K.-
dc.contributor.authorTsybulskaya, L. S.-
dc.contributor.authorMazanik, A. V.-
dc.contributor.authorSvito, I. A.-
dc.contributor.authorGusakova, S. V.-
dc.contributor.authorZukowski, P. V.-
dc.contributor.authorKoltunowicz, T. N.-
dc.date.accessioned2017-03-02T15:20:46Z-
dc.date.available2017-03-02T15:20:46Z-
dc.date.issued2016-07-
dc.identifier.citationMaterials Chemistry and Physics. - 2016. – Vol. 177. - P. 413 - 416ru
dc.identifier.issn0254-0584-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/169013-
dc.description.abstractSeebeck coefficient values measured for textured polycrystalline Bi films have been compared with numerically computed ones. The proposed computation procedure requires crystallographic texture mapping and values of single-crystalline transport coefficients as input data. The comparison of computed and measured Seebeck coefficients allowed determining the factors affecting films' transport properties except of crystalline texture. Two particular cases are considered: when the film properties are affected only by texture and when they depend on texture and grain size simultaneously.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherElsevier B.V.ru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleSimulation of polycrystalline bismuth films Seebeck coefficient based on experimental texture identificationru
dc.typearticleru
Располагается в коллекциях:Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Simulation of polycrystalline bismuth films Seebeck coefficient based on experimental texture identification.pdf411,2 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.