Просмотр "Кафедра физической электроники и нанотехнологий (архив)" Заглавия
Результаты 34 - 53 из 77
< предыдущий
следующий >
Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
| 5-июл-2018 | Наноматериалы в электронике, радиофизике и отпике № УД-5321/уч. | Гайдук, П. И. |
| 2018 | Основы взаимодействия лазерного излучения с веществом УД-6212/уч. | Людчик, О. Р. |
| 18-ноя-2013 | Основы наноэлектроники №УД-672/р | Жевняк, О. Г. |
| 2016 | Основы наноэлектроники. № УД-3370/уч. | Жевняк, Олег Григорьевич |
| 22-ноя-2013 | Основы радиоэлектроники № УД-861/р | Борздов, В. М. |
| 22-ноя-2013 | Основы радиоэлектроники № УД-862/р | Борздов, В. М. |
| 11-июн-2014 | Основы сенсорики и 3D-микромеханики для аэрокосмических систем. № УД-1099 | Леонтьев, А. В. |
| 26-июн-2015 | Основы технологий микро- и наноэлектроники | Бурмаков, А. П. |
| 18-ноя-2013 | Основы технологий микро- и наноэлектроники №УД-667/р | Бурмаков, А. П. |
| 18-ноя-2013 | Перспективные технологии микро- и наноэлектроники №УД-673/р | Кольчевский, Н. Н. |
| 18-ноя-2013 | Рентгеновские методы в технологических процессах электроники №УД-663/р | Кольчевский, Н. Н. |
| 2018 | Сенсорика и микросистемная техника: учебная программа УВО по учебной дисциплине по специальности высшего образования второй ступени (магистратуры) 1-31 80 07 Радиофизика. № УД-5217 | Леонтьев, А. В. |
| 18-ноя-2013 | Современные методы диагностики материалов и структур твердотельной электроники №УД-664/р | Леонтьев, А. В. |
| 19-ноя-2013 | Современные методы диагностики микро- и наносистем № УД-683/р | Леонтьев, А. В. |
| 2018 | Современные проблемы физической электроники № УД-6052/уч. | Борздов, В. М. |
| 19-ноя-2013 | Теория квантоворазмерных приборных структур № УД-681/р | Жевняк, О. Г. |
| 19-ноя-2013 | Технологии СБИС и УБИС № УД-662/р | Гайдук, П. И. |
| 19-ноя-2013 | Технологии элементов микро- и наносистем № УД-677/р | Бурмаков, А. П. |
| 22-ноя-2013 | Технология тонких пленок № УД-853/р | Новиков, А. Г. |
| 22-ноя-2013 | Технология тонких пленок № УД-854/р | Зайков, В. А.; Кулешов, В. Н. |