Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:

Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 110.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2016О применимости методов индентирования и склерометрии для измерения прочностных характеристик полимерных пленок на кремнииБринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.; Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.
2016Государственный центр «Белмикроанализ» – центр коллективного пользования по проведению аналитических исследований при создании инновационных изделий микро- и наноэлектроникиПилипенко, В. А.
2016Спектроскопические характеристики композиционных материалов на основе халькопиритовАзарко, И. И.; Игнатенко, О. В.; Оджаев, В. Б.; Zukowski, P.; Карпович, И. А.
2016Mössbauer studies of the phase formation in the Fe-S systemKorzun, B.; Sobol, V.; Myndyk, M.; Šepelák, V.; Becker, K. D.
2016Морфология поверхности пленок теллурида кадмия, полученных на кремниевой подложке методом вакуумного напыленияАкобирова, А. Т.; Головчук, В. И.; Лукашевич, М. Г.; Султонов, Н.; Хамрокулов, Р. Б.
2016Исследование методом электротепловой спектрометрии деградации структуры теплового сопротивления транзисторов КП7209 в корпусе ТО-254 при воздействии высокоинтенсивных термоударовБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Рубцевич, И. И.
2016Формирование межкомпонентной изоляции канавками, заполненными диэлектрикомНаливайко, О. Ю.; Роговой, В. И.; Турцевич, А. С.; Кисель, А. М.
2016Оптимизация процесса химико-механической полировки вольфрама для формирования межсоединений субмикронных ИМСНаливайко, О. Ю.; Роговой, В. И.; Турцевич, А. С.
2016Вольт-фарадные характеристики МОП - структур Me – DyXOY(Ag) – SiO2 – Si c нанокластерами серебраМалютина-Бронская, В. В.; Малышев, С. А.; Романова, Л. И.; Бабушкина, Н. В.; Гущинская, Е. В.
2016Бесконтактное определение пространственного распределения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии на основе анализа спектральной зависимости поверхностной фотоЭДСЖарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.