| Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
| 2016 | Анализ некоторых аспектов контроля учебного процесса в учреждениях высшего образования | Волобуев, В. С.; Горжанов, В. В.; Дубоделова, Е. В. |
| 2016 | Аномалии кинетики фотоотклика кристалла сегнетоэлектрика – полупроводника TlGaSe2 | Одринский, А. П.; Seyidov, M. H. Yu; Suleymanov, R. A.; Мамедов, Т. Г.; Алиева, В. Б. |
| 2016 | Бесконтактное определение пространственного распределения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии на основе анализа спектральной зависимости поверхностной фотоЭДС | Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. |
| 2016 | Быстрая термическая обработка системы TiN/Ti/Si | Маркевич, М. И.; Стельмах, В. Ф.; Чапланов, А. М.; Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В. |
| 2016 | Влияние высокотемпературного отжига на свойства тонких пленок оксида цинка, легированного атомами переходных металлов | Шерстнёв, А. И.; Чубенко, Е. Б.; Бондаренко, В. П. |
| 2016 | Влияние добавки золя SnO2 в электролит меднения на микроструктуру и электропроводность тонких медных пленок | Конаков, А. О.; Воробьева, Т. Н. |
| 2016 | Влияние допирования эрбием на диэлектрические свойства монокристаллов TlInS2 | Гуртовой, В. Г.; Шелег, А. У. |
| 2016 | Влияние изовалентной примеси кремния на образование и отжиг комплекса донор – вакансия в германии | Покотило, Ю. М.; Петух, А. Н. |
| 2016 | Влияние обработки поверхности кремния в растворе (NH4)2Sx на зарядовые свойства границы раздела оксид диспрозия-кремний | Бабушкина, Н. В.; Малышев, С. А.; Жигулин, Д. В.; Романова, Л. И. |
| 2016 | Влияние примеси азота на закономерности формирования и термическую стабильность радиационных дефектов в монокристаллах синтетического алмаза | Гусаков, Г. А.; Мудрый, А. В.; Рогинец, Л. П. |
| 2016 | Влияние режимов имплантации и термообработок на видимую фотолюминесценцию Zn(Se, S) нанокластеров в SiO2 | Моховиков, М. А.; Комаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мильчанин, О. В.; Пархоменко, И. Н.; Мудрый, А. В.; Wendler, E. |
| 2016 | Влияние режимов магнетронного распыления на оптические свойства TiAlN покрытий для селективных солнечных поглотителей | Зайков, В. А.; Климович, И. М.; Комаров, Ф. Ф.; Королик, О. В.; Людчик, О. Р. |
| 2016 | Влияние режимов реактивного магнетронного нанесения на структурные и электрофизические свойства покрытий Ti-Al-N | Климович, И. М.; Зайков, В. А.; Семенева, Н. В. |
| 2016 | Влияние электромагнитных излучений различных частотных диапазонов на структуру воды – одного из основных технологических материалов микро- и наноэлектроники | Лукьяница, В. В. |
| 2016 | Вольт-фарадные характеристики МОП - структур Me – DyXOY(Ag) – SiO2 – Si c нанокластерами серебра | Малютина-Бронская, В. В.; Малышев, С. А.; Романова, Л. И.; Бабушкина, Н. В.; Гущинская, Е. В. |
| 2016 | Вопросы формирования академических компетенций дисциплины «Инженерная графика» для специальности «Физика наноматериалов и нанотехнологий» | Яшкин, В. И. |
| 2016 | Государственный центр «Белмикроанализ» – центр коллективного пользования по проведению аналитических исследований при создании инновационных изделий микро- и наноэлектроники | Пилипенко, В. А. |
| 2016 | Дифференциальная емкость полупроводникового диода с прыжковой проводимостью по радиационным дефектам | Поклонский, Н. А.; Ковалев, А. И.; Вырко, С. А.; Власов, А.Т. |
| 2016 | Диффузионные процессы в светочувствительной структуре полупроводник-металл-диэлектрик | Костко, В. С. |
| 2016 | Диффузионные характеристики кислородных димеров и комплексов вакансия – два атома кислорода в кремнии: данные ИК поглощения | Мурин, Л. И.; Толкачева, Е. А.; Маркевич, В. П. |
