Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/151954
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТиванов, М. С.-
dc.contributor.authorШутько, И. А.-
dc.date.accessioned2016-06-14T14:27:00Z-
dc.date.available2016-06-14T14:27:00Z-
dc.date.issued2016-04-
dc.identifier.citationОфициальный бюллетень. - 2016. - № 2. - C. 107 - 108ru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/151954-
dc.description.abstractСпособ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherГКНТ РБ. Национальный центр интеллектуальной собственностиru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleСпособ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала: Патент на изобретениеru
dc.typearticleru
Располагается в коллекциях:Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи)

Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.