Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/151954Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Тиванов, М. С. | - |
| dc.contributor.author | Шутько, И. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-06-14T14:27:00Z | - |
| dc.date.available | 2016-06-14T14:27:00Z | - |
| dc.date.issued | 2016-04 | - |
| dc.identifier.citation | Официальный бюллетень. - 2016. - № 2. - C. 107 - 108 | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/151954 | - |
| dc.description.abstract | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | ГКНТ РБ. Национальный центр интеллектуальной собственности | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала: Патент на изобретение | ru |
| dc.type | article | ru |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала.pdf | 813,97 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.

