Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/14505
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТиванов, Михаил Сергеевич-
dc.contributor.authorДроздов, Н. А.-
dc.contributor.authorМазаник, А. В.-
dc.contributor.authorЗарецкая, Е. П.-
dc.contributor.authorГременок, В. Ф.-
dc.date.accessioned2012-08-29T09:25:09Z-
dc.date.available2012-08-29T09:25:09Z-
dc.date.issued2007-05-
dc.identifier.citationВестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2007. - № 2. - С.51-55ru
dc.identifier.issn0321-0367-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/14505-
dc.description.abstractA simple method for the calculation of Cu(In, Ga)(S, Se)2-layer parameters (space-charge region width and diffusion length) at various stages of the solar cells preparation is proposed. The method is based on the analysis of the photovoltagc spectra in framework of the solar cell one-dimensional model. Предложен способ определения ширины области пространственного заряда и диффузионной длины неосновных носителей заряда в Cu(In, Ga)(S, Se)2-слое солнечных элементов. Метод базируется на анализе спектральных зависимостей фотоЭДС солнечных элементов в рамках одномерной модели. Данный метод применим в качестве экспресс-теста, позволяющего отслеживать эволюцию параметров Cu(In, Ga)(S, Se)2-слоя солнечных элементов на различных стадиях их формирования, начиная с нанесения буферного слоя (формирования р - n-перехода).ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleНеразрушающий контроль параметров Cu(In, Ga)(S, Se)2 -слоя солнечных элементовru
dc.typearticleru
Располагается в коллекциях:2007, №2 (май)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
51-55.pdf397,86 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.