Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/133790
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГончаров, В. К.-
dc.contributor.authorМикитчук, Е. П.-
dc.contributor.authorКозадаев, К. В.-
dc.date.accessioned2016-01-11T10:34:20Z-
dc.date.available2016-01-11T10:34:20Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationКвантовая электроника: Материалы X Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 9–13 нояб. 2015 г. – Минск, 2015. – С. 156.ru
dc.identifier.isbn978-985-500-903-1-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/133790-
dc.description.abstractПредложен непрямой метод экспресс-диагностики микроскопических параметров наноструктур на основе данных оптической спектроскопии и численного моделирования.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : РИВШru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleОценка параметров наночастиц благородных металлов по данным оптической спектроскопии.ru
dc.typeconference paperru
Appears in Collections:2015. Квантовая электроника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
156_Mikitchuk.pdf360,63 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.