РАСЧЕТ ЭФФЕКТИВНОСТИ ДОПОЛНИТЕЛЬНОЙ ЗАЩИТЫ МИКРОСХЕМ В МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСАХ ОТ ВОЗДЕЙСТВИЯ ПРОТОНОВ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА

Abstract

С помощью программного пакета GEANT4 проведен расчет поглощенных доз кристаллом Si при облучении протонами космического пространства микросхем в металлокерамических корпусах типа Н04.16-1В, дополнительно защи-щенных экранами на основе композита W-Cu. Рассмотрены варианты экранов в виде дополнения только верхней и нижней пластин к корпусу, а также сплошной оболочки, закрывающей всю поверхность корпуса. Показано, что накопленная кристаллом Si доза при неполной защите больше по сравнению с полной в 1.05 раза для протонов естественных радиационных поясов Земли, в 1.02 раза — галактических космических лучей и 1.1 раза — солнечных космических лучей СКЛ. На зависимостях поглощенной дозы от энергии обнаружены два пика Брэгга, что обусловлено существенным различием массовой толщины крышек и оснований стандартных металлокерамических корпусов микросхем.