Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/108247
Title: Решение проблемы расчета ширины запрещенной зоны полупроводников в рамках метода функционала плотности
Authors: Гусаков, В. Е.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2014
Publisher: Издательский центр БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. VI Междунар. науч. конф., Минск, 8-9 окт. 2014 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск: Изд. центр БГУ, 2014. - С.
Abstract: В работе представлено решение проблемы расчета ширины запрещенной зоны в рамках метода DFT. Анализ полученных результатов показал, что предложенный метод расчета ширины запрещенной зоны дает значения практически совпадающие с измеренными экспериментально. Предложенный метод для расчета ширины запрещенной зоны может быть легко модифицирован для расчета энергетических уровней глубоких дефектов в полупроводниках и электронных свойств наноструктур.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/108247
ISBN: 978-985-553-234-8
Sponsorship: Белорусский Республиканский Фонд Фундаментальных Исследований
Appears in Collections:2014. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
p.170-173.pdf468,06 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.