Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/108145
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Якушевич, А. С. | - |
dc.contributor.author | Ластовский, С. Б. | - |
dc.contributor.author | Богатырев, Ю. В. | - |
dc.contributor.author | Грабчиков, С. С. | - |
dc.contributor.author | Василенков, Н. А. | - |
dc.date.accessioned | 2015-01-26T17:53:42Z | - |
dc.date.available | 2015-01-26T17:53:42Z | - |
dc.date.issued | 2014 | - |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. VI Междунар. науч. конф., Минск, 8-9 окт. 2014 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск: Изд. центр БГУ, 2014. - С. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-985-553-234-8 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/108145 | - |
dc.description.abstract | В работе проводилось определение с помощью программного пакета GEANT4 эффективности защиты ИЭТ экранами на основе композита W–Cu от воздействия протонов ЕРПЗ. С помощью программного пакета GEANT4 рассчитана поглощенная доза протонов ЕРПЗ в кристалле кремния, облучаемом за защитными экранами на основе композита W–Cu и без экрана. Показано, что с ростом толщины экранов от 0,2 до 1,5 мм поглощенная доза радиации в кремнии уменьшается в 3,24–6,38 раз по сравнению с неэкранированным образцом. | ru |
dc.description.sponsorship | Белорусский Республиканский Фонд Фундаментальных Исследований | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Издательский центр БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Исследование защитных свойств экранов на основе композита W-Cu для изделий электронной техники от протонов радиационных поясов Земли | ru |
dc.type | conference paper | ru |
Располагается в коллекциях: | 2014. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
p.156-158.pdf | 597,3 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.