<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <channel rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/48868">
    <title>ЭБ Раздел:</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/48868</link>
    <description />
    <items>
      <rdf:Seq>
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302513" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302512" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302511" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302509" />
      </rdf:Seq>
    </items>
    <dc:date>2026-04-18T04:59:21Z</dc:date>
  </channel>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302513">
    <title>DLTS-спектроскопия радиационных дефектов в облученных ионами гелия структурах Al/Si3N4/n-Si</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302513</link>
    <description>Заглавие документа: DLTS-спектроскопия радиационных дефектов в облученных ионами гелия структурах Al/Si3N4/n-Si
Авторы: Горбачук, Н. И.; Поклонский, Н. А.; Ермакова, Е. А.; Шпаковский, С. В.; Ломако, В. М.
Аннотация: Исследовались структуры Al/Si3N4/n-Si, облученные ионами гелия флюенсом 10 11 см−2 (кинетическая энергия иона 5 МэВ). Регистрировались спектры DLTS, т.е. зависимости емкости от температуры, а также изотермические вольт-фарадные характеристики. Установлено, что варьирование электрического напряжения заполнения и напряжения эмиссии позволяет независимо регистрировать сигналы DLTS как от центров, локализованных на границе раздела Si3N4/n-Si, так и от радиационных дефектов в глубине кремния. Показано, что облучение ионами гелия приводит как к генерации дивакансий и комплексов вакансия-кислород и вакансия-фосфор, так и к увеличению концентрации дефектов на границе раздела
Доп. сведения: Секция 4. Прикладные проблемы физики конденсированного состояния</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302512">
    <title>Методика неразрушающего анализа шероховатости рельефа наноструктурированных кристаллических поверхностей</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302512</link>
    <description>Заглавие документа: Методика неразрушающего анализа шероховатости рельефа наноструктурированных кристаллических поверхностей
Авторы: Волков, Ю. О.; Нуждин, А. Д.; Рощин, Б. С.; Муслимов, А. Э.; Толстихина, А. Л.; Прохоров, И. А.; Аргунова, Т. С.; Лебедев, С. П.; Лебедев, А. А.; Асадчиков, В. Е.
Аннотация: Обоснована применимость комплексной методики, включающей рентгеновскую рефлектометрию, незеркальное рентгеновское рассеяние и атомно-силовую микроскопию, для характеризации ориентированных террасно-ступенчатых структур на поверхности отожжённых пластин сапфира и карбида кремния. Показано, что данное сочетание методов позволяет получить совокупность статистических параметров, наиболее полно характеризующих регулярные свойства рельефа структурированной поверхности
Доп. сведения: Секция 4. Прикладные проблемы физики конденсированного состояния</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302511">
    <title>Рентгеновская рефлекто-интерферометрия для исследования кривых поверхностей</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302511</link>
    <description>Заглавие документа: Рентгеновская рефлекто-интерферометрия для исследования кривых поверхностей
Авторы: Воеводина, М. А.; Зверев, Д. А.; Снигирев, А. А.
Аннотация: В данной работе представлен метод рефлекто-интерферометрии для исследования кривых поверхностей с использованием сфокусированного рентгеновского пучка составными преломляющими линзами. Метод был применен для in-situ исследования слоя графена расположенного на поверхности капли расплавленной меди, имеющей естественную кривизну. Эксперимент был проведен на источнике синхротронного излучения на станции ID10. В результате была получена рефлекто-интерферограмма, на основании которой удалось оценить шероховатость границы раздела сред медь/графен, толщину и плотность слоя меди и слоя графена
Доп. сведения: Секция 4. Прикладные проблемы физики конденсированного состояния</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302509">
    <title>Автоматизированное оборудование для непрерывного производства предизолированных труб из пенополиуретановых систем</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/302509</link>
    <description>Заглавие документа: Автоматизированное оборудование для непрерывного производства предизолированных труб из пенополиуретановых систем
Авторы: Васильева, В. С.; Выдумчик, С. В.; Гавриленко, О. О.; Горохов, С. Л.; Павлюкевич, Т. Г.; Понарядов, В. В.; Ксенофонтов, М. А.
Аннотация: В работе представлено разработанное на базе новых конструкторских и инженерных решений с использованием микропроцессорной техники и специальных информационно-аналитических и логических программ автоматизированное оборудование для подготовки, смешения, высокоточного дозирования и производства из двухкомпонентных пенополиуретановых систем теплоизолирующего слоя, входящего в многослойную конструкцию предизолированных труб. Трубы изготавливаются в течение непрерывного технологического процесса, благодаря чему каждый из слоев имеет прочное физическое сцепление с соседними слоями, а устойчивость к пагубному воздействию различных химреактивов и агрессивной среды обеспечивает увеличение сферы применения таких конструкций
Доп. сведения: Секция 4. Прикладные проблемы физики конденсированного состояния</description>
    <dc:date>2023-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
</rdf:RDF>

