https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/278892 2026-04-20T22:56:33Z https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/320270 Заглавие документа: Журнал Белорусского государственного университета. Физика. – 2022. – № 1 2022-01-01T00:00:00Z https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/278909 Заглавие документа: Оценка вклада рассеянного ионизирующего излучения в показания дозиметра при измерениях в низкофоновой камере Авторы: Загороднюк, А. А.; Лукашевич, Р. В. Аннотация: С помощью моделирования Монте-Карло оценен вклад ионизирующего гамма-излучения, рассеянного на конструкционных материалах, в суммарную мощность дозы при измерениях в низкофоновой камере. В компьютерной программе Fluka создана модель низкофоновой камеры и размещенных в ней сцинтилляционного дозиметрического блока детектирования БДКГ-05К и точечного источника гамма-излучения с радионуклидом 137Cs. Доля рассеянного излучения рассчитана путем сравнения модельных показаний прибора при измерении мощности дозы внутри низкофоновой камеры с модельными показаниями прибора при измерении мощности дозы в вакууме (в последнем случае рассеянное излучение отсутствует). Моделирование выполнено для двух положений прибора относительно источника (на расстоянии 30 и 100 см). Установлено, что максимальный вклад рассеянного излучения в мощность дозы достигает 38 %. Для минимизации вклада рассеянного излучения в мощность дозы использована конструкция в виде коллиматора, внутри которого располагается источник. Дополнительно исследована зависимость мощности дозы, формируемой рассеянным излучением, от конструктивных особенностей коллиматора. Показано, что использование коллиматора позволяет снизить вклад рассеянного излучения до 3 %. Цель работы – оценка доли рассеянного излучения и расчет оптимальной конструкции коллиматора, при которой вклад рассеянного излучения в суммарную мощность дозы будет минимальным. 2022-01-01T00:00:00Z https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/278908 Заглавие документа: Методика исследования фотостабильности солнечных элементов на основе органо-неорганических перовскитов с помощью конфокального спектрометра Авторы: Магонь, Н. С.; Королик, О. В.; Мазаник, А. В. Аннотация: На примере изучения фотодеградации и темнового восстановления органо-неорганических перовскитных солнечных элементов представлена методика исследования фоточувствительных структур, основанная на использовании конфокального спектрометра для измерения спектров комбинационного рассеяния света, спектров и кинетик фото- и электролюминесценции, кинетик тока короткого замыкания и напряжения холостого хода при локальном воздействии монохроматическим излучением. Спектры комбинационного рассеяния света помогают установить наличие или отсутствие вторичных фаз, образование которых возможно в фоточувствительных слоях под воздействием света, а спектры фотолюминесценции дают возможность выявить однофазность изучаемого объекта. Картирование интенсивности и положения центра масс полосы фотолюминесценции в плоскости исследуемого объекта позволяет судить о пространственном расположении центров безызлучательной рекомбинации носителей заряда, распределении участков с наибольшей и наименьшей эффективностью экстракции носителей заряда транспортно-акцепторными слоями и пространственной однородности химического состава. Сравнение спектров электролюминесценции до и после светового воздействия дает возможность выявить образование центров безызлучательной рекомбинации в фотопоглощающем слое и на его границах с транспортными слоями. Анализ кинетик изменения параметров полосы фотолюминесценции, полученных при измерении тока короткого замыкания и напряжения холостого хода, позволяет установить доминирующие фотоиндуцированные процессы, приводящие к изменению интенсивности полосы фотолюминесценции. 2022-01-01T00:00:00Z https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/278907 Заглавие документа: Зарядовые свойства тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработки Авторы: Ковальчук, Н. С.; Марудо, Ю. А.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Анищик, В. М.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В. Аннотация: Исследованы зарядовые свойства полученных методом быстрой термообработки (БТО) тонких слоев диэлектриков и их границы раздела с кремнием для МОП-транзисторов. Формирование слоев производилось двух- либо трехстадийным процессом БТО с аналогичными для каждой стадии режимами фотонной обработки (длительность – 12 с, максимальная температура – 1250 °С). Установлено, что у оксидов затвора, полученных двухстадийным процессом БТО в атмосфере кислорода, после проведения третьей стадии обработки в атмосфере азота происходят частичная ликвидация дефектов, ответственных за локальные зарядовые центры, и рост относительного значения поверхностного потенциала в среднем на 100 отн. ед. Ликвидация дефектов является следствием перестройки структуры диэлектрика и его границы с кремнием, а также диффузии атомов кислорода и кремния вдоль границ раздела слоя изолятора. Для образцов, полученных двухстадийным процессом БТО в атмосфере кислорода, после проведения третьей стадии обработки в формовочном газе наблюдаются практически полная ликвидация локальных зарядовых центров и рост относительной величины поверхностного потенциала в среднем на 300 отн. ед. В данном случае, помимо процессов, происходящих при обработке SiO2 методом БТО в атмосфере азота, ликвидацию зарядовых центров обусловливает пассивация дефектов атомами водорода. 2022-01-01T00:00:00Z