<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <channel rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/222720">
    <title>ЭБ Коллекция: Материалы 7-й Международной конференции, Минск, 26—28 сентября 2007 г.</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/222720</link>
    <description>Материалы 7-й Международной конференции, Минск, 26—28 сентября 2007 г.</description>
    <items>
      <rdf:Seq>
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223873" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223872" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223870" />
        <rdf:li rdf:resource="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223869" />
      </rdf:Seq>
    </items>
    <dc:date>2026-04-21T06:30:16Z</dc:date>
  </channel>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223873">
    <title>Связь процессов радиационного дефектообразования с цепями Маркова</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223873</link>
    <description>Заглавие документа: Связь процессов радиационного дефектообразования с цепями Маркова
Авторы: Тогамбаева, А.; Купчишин, А. А.; Купчишин, А. И.; Шмыгалева, Т. А.
Аннотация: в работе изучена связь каскадно-вероятностных функций (КВФ) для электронов, протонов, альфа-частиц, ионов с цепями Маркова и Марковскими процессами. Используя известное уравнение Колмогорова-Чэпмена для Марковского процесса, нами получено рекуррентное соотношение для переходных вероятностей (КВФ). Показана связь процесса образования радиационных дефектов с цепями Маркова и Марковскими процессами. Доказано, что выражение для спектров первично-выбитых атомов и концентрации радиационных дефектов получается из уравнения Колмогорова-Чэпмена. Рассматривается случай, когда после соударения частица не изменяет направление своего движения, интенсивность потока зависит от времени, а следовательно и от глубины проникновения.</description>
    <dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223872">
    <title>Фотокаталитическая литография с использованием пленок аморфного диоксида титана, содержащих ионы палладия</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223872</link>
    <description>Заглавие документа: Фотокаталитическая литография с использованием пленок аморфного диоксида титана, содержащих ионы палладия
Авторы: Скорб, Е. В.; Соколов, В. Г.; Гаевская, Т. В.; Свиридов, Д. В.
Аннотация: Исследован механизм фотоактивирования тонких пленок аморфного гидратированного диоксида титана, содержащих ионы палладия, по отношению к реакции химического осаждения никеля. Показано, что результатом фотокаталитического восстановления ионов палладия при УФ-облучении является образование промежуточных состояний Pd(l), которые затем диспропорционируют с образованием палладиевой нанофазы. Катализируемое наночастицами палладия химическое осаждение никеля на экспонированных участках диоксид-титанового фотослоя позволяет получать металлические рисунки с разрешением 5 мкм, причем быстрый и необратимый захват фотоэлектронов на стадии формировании скрытого изображения предупреждает его растекание, в том числе и при использовании проводящих подложек.</description>
    <dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223870">
    <title>Оптический контроль качества керамических ZrO2 покрытий 1пР, оптический контроль качества керамических ZrOz покрытий</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223870</link>
    <description>Заглавие документа: Оптический контроль качества керамических ZrO2 покрытий 1пР, оптический контроль качества керамических ZrOz покрытий
Авторы: Ропот, П. И.; Васильев, Р. Ю.; Рыжевич, А. А.
Аннотация: Исследуется возможности контроля качества керамических покрытий на основе гЮг, применяемых для тепловой защиты в условиях высоких фадиентов температур, оптическими методами. Изучение спектральных характеристик ZrO2 покрытий показало, что они оптически прозрачны в видимой и ближней ИК области спектра. Пропускание керамик в диапазоне 0,6 - 1,5мкм растет, а диапазон 0,8-0,95мкм может являться перспективным для дефектоскопии этих материалов. С целью поиска высокоэффективных неразрушающих методов, применимых в условиях производства рассмотрены визуальный и флуоресцентный методы, малоугловое рассеяние, двухэкспозиционная голография, методы анализа динамики спекл-изображений. Установлено, что частичную информацию о качестве керамического покрытия можно получить из анализа динамики спекл-изображений, полученных нестационарным тепловым воздействием при охлаждении образцов, в том числе с применением методов корреляционного анализа.</description>
    <dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
  <item rdf:about="https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223869">
    <title>Полупроводниковые плёнки полученные методом импульсного ионного осаждения</title>
    <link>https://elib.bsu.by:443/handle/123456789/223869</link>
    <description>Заглавие документа: Полупроводниковые плёнки полученные методом импульсного ионного осаждения
Авторы: Ремнев, Г. Е.; Салтымаков, М. С.; Ивонин, И. В.; Найден, Е. П.; Юрченко, В. И.
Аннотация: в докладе приведены результаты исследований полупроводниковых плёнок сложного состава 1пР. Плёнки осаждались из абляционной плазмы, сгенерированной из массивной мишени 1пР при воздействии на неё серии импульсного мощного ионного пучка наносекундной длительности. Сохранение стехиометрического состава осаждённых плёнок относительно исходной мишени проверялось методом ОЖЕ спектроскопии. Морфология поверхности плёнок определялась методами оптической и атомно-силовой микроскопии. Фазовый состав пленок&#xD;
исследовался малоугловым рентгеновским рассеянием.</description>
    <dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
  </item>
</rdf:RDF>

