Logo BSU

  1. Электронная библиотека БГУ
Даты публикации Авторы Заглавия Темы

Просмотр Авторы Komarov, F. F.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 21 - 31 из 31 < предыдущий 
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2017Radiation degradation of bipolar transistor current gainMiskiewicz, S. A.; Komarov, A. F.; Komarov, F. F.; Zayats, G. M.; Soroka, S. A.
2001Refractive lens for hard X-raysDudchik, Yu. I.; Kolchevsky, N. N.; Komarov, F. F.
2014Simulation of Radiation Effects in SiO2/Si StructuresKomarov, A. F.; Zayats, G. M.; Komarov, F. F.; Miskiewicz, S. A.; Michailov, V. V.
2015Simulation of Radiation Effects in SiO2/Si StructuresKomarov, F. F.; Zayats, G. M.; Komarov, A. F.; Miskiewicz, S. A.; Michailov, V. V.; Komsta, H.
2019Structural and emitting properties of Zinc Oxide nanocrystals synthesized by high-fluence ion implantationParkhomenko, I. N.; Vlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Makhavikou, M.; Milchanin, O. V.; Wendler, E.; Ronning, C.; Zaph, M.; Korolev, D. S.
2003Surface changes of Si[111] single crystals irradiated by high-dose swift heavy ionsAbou AL-Azm, S. M.; Vlasukova, L. A.; Didyk, A. Yu.; Komarov, F. F.; Kozodaev, M. A.; Semina, V. K.; Cheblukov, Yu. N.; Hofman, A.; KhaIiI, A.
2014Threshold and criterion for ion track etching in SiO2layers grown on SiVlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Wesch, W.; Wendler, E.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsin, S. B.
2015Track nanotechnology and nanoelectronics : textbook / F. F. Komarov, A. V. LeontyevКомаров, Фадей Фадеевич; Леонтьев, Александр Викторович; Komarov, F. F.; Leontyev, A. V.
2007Using of a microcapillary refractive X-ray lens for focusing and imagingDudchik, Yu. I.; Komarov, F. F.; Piestrup, M. A.; Gary, C. K.; Park, H.; Cremer, J. T.
ноя-1999X-ray focusing test and x-ray imaging test by a microcapillary x-ray lens at an undulator beamlineKohmura, Yoshiki; Awaji, Mitsuhiro; Suzuki, Yoshio; Ishikawa, Tetsuya; Dudchik, Yu. I.; Kolchevsky, N. N.; Komarov, F. F.
2008X-Ray “Knife” as a Submicrometer Tool for Studying Focusing Lens QualityArtemiev, A. N.; Maevskii, A. G.; Artemiev, N. A.; Demkiv, A. A.; Dudchik, Yu. I.; Zabelin, A. V.; Kirillov, B. Ph.; Kvardakov, V. V.; Komarov, F. F.; Naida, O. V.; Porokhova, A. V.
Результаты 21 - 31 из 31 < предыдущий