Logo BSU

Просмотр Авторы Челядинский, А. Р.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 13 - 30 из 30 < предыдущий 
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2017Моделирование диффузии имплантированного бора в кремнииЧелядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.
2011МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИФФУЗИИ ИМПЛАНТИРОВАННОГО ФОСФОРА В КРЕМНИИБуренков, В. А.; Челядинский, А. Р.
2003Накопление радиационных дефектов в кремнии при имплантации ионов азотаЧелядинский, А. Р.; Явид, В. Ю.; Венгерэк, П.
2017О влиянии упругих напряжений на диффузию бора в кремнииОджаев, В. Б.; Плебанович, В. И.; Тарасик, М. И.; Челядинский, А. Р.
2004Остаточные дефекты в кремнии, имплантированном ионами бора и фосфораКомаров, Ф. Ф.; Джадан, М.; Гайдук, П. И.; Челядинский, А. Р.; Явид, В. Ю.; Жуковский, П. В.; Партыка, Я.; Венгерек, П.
2008Поведение примесей сурьмы и фосфора в имплантированном кремнииБелоус, А. И.; Васильев, Ю. Б.; Емельянов, В. А.; Оджаев, В. Б.; Плебанович, В. И.; Садовский, П. К.; Челядинский, А. Р.
2014Пошаговый метод имплантации кремния ионами бора при быстром термическом отжигеСадовский, П. К.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.; Тарасик, М. И.; Шейников, Д. П.
2010Пошаговый метод имплантации кремния ионами бора при быстром термическом отжигеВасильев, Ю. Б.; Плебанович, В. И.; Оджаев, В. Б.; Садовский, П. К.; Челядинский, А. Р.; Гайдук, П. И.; Прокопьев, С. Л.
2015Пошаговый метод имплантации кремния ионами бора при быстром термическом отжигеСадовский, П. К.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.; Углов, В. В.; Гайдук, П. И.; Прокопьев, С. Л.; Шейников, Д. П.
2010Разработать физические основы технологии создания бездефектных ионно-легированных структур кремния с целью улучшения параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем на их основе и повышении выхода годных изделий микроэлектроники : отчет о НИР (заключительный) / БГУ; науч. рук. А. Р. ЧелядинскийЧелядинский, А. Р.; Явид, В. Ю.; Васильева, Л. А.; Садовский, П. К.; Васильев, Ю. Б.
2014Разработка физико-технологических методов создания бездислокационных легированных слоев кремния и моделирование переходных процессов на границах раздела структур субмикронных интегральных микросхем : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. Б. ОджаевОджаев, В. Б.; Челядинский, А. Р.; Петров, В. В.; Азарко, И. И.; Просолович, В. С.; Горбачук, Н. И.; Бринкевич, Д. И.; Янковский, Ю. Н.; Шпаковский, С. В.; Филипеня, В. А.; Поклонская, О. Н.; Сидоренко, Ю. В.; Садовский, П. К.
2018Разработка физико-технологических методов создания элементов биполярных и комплементарных структур металл-окисел-полупроводник, моделирование и управление их статическими и динамическими характеристиками, 3.2.01.1 : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. Б. ОджаевОджаев, В. Б.; Просолович, В. С.; Челядинский, А. Р.; Горбачук, Н. И.; Янковский, Ю. Н.; Сидоренко, Ю. В.
2015Разработка физико-технологических методов управления и контроля характеристиками переходных процессов и модификации дефектно-примесного состава функциональных слоев в базовых элементах субмикронных интегральных микросхем. ГПНИ «Электроника и фотоника», задание 1.1.12 : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. Б. ОджаевОджаев, В. Б.; Челядинский, А. Р.; Азарко, И. И.; Просолович, В. С.; Горбачук, Н. И.; Бринкевич, Д. И.; Янковский, Ю. Н.
2013Создание слоя микропористого кремния путем имплантации ионов сурьмыСадовский, П. К.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.; Тарасик, М. И.; Турцевич, А. С.; Васильев, Ю. Б.
2008Токи утечки в p-n-переходах интегральных схем, изготовленных пошаговым методом ионного легированияПлебанович, В. И.; Оджаев, В. Б.; Васильев, Ю. Б.; Явид, В. Ю.; Челядинский, А. Р.
2016Химическая чистота и параметры МОП-структур на кремнииВасильев, Ю. Б.; Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Садовский, П. К.; Тарасик, М. И.; Филипеня, В. А.; Челядинский, А. Р.
2001Центры рекомбинации в облученном гамма квантами 60Со p-GeЯвид, B. Ю.; Челядинский, А. Р.
сен-2011Эффект Воткинса в полупроводниках. Явление и приложения в микроэлектроникеЧелядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.