Logo BSU

Просмотр Авторы Тишков, В. С.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 1 - 7 из 7
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
1999Влияние мелкодисперсных включений алмаза на структуру электролитических пленок никеляГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.; Якубеня, С. Н.
1986Использование метода дифракции в сходящемся пучке для анализа структуры ближнего порядка тонких слоев аморфного веществаКомаров, Ф. Ф.; Корнейчик, В. В.; Тишков, В. С.
2000Концентрационные зависимости подвижности носителей заряда и удельного сопротивления в имплантированных сплавах Si1-xGexГайдук, И. И.; Чернявская, Ю. В.; Ларсен, А. Н.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.
1999Морфология поверхности кристаллов германия, облученных тяжелыми ионами средних энергийТишков, В. С.; Гайдук, П. И.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.
1998Поведение мышьяка в сплавах Si1-xGex при быстром термическом отжигеГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.; Комаров, Ф. Ф.
1999Эволюция дефектов в кристаллическом InP при облучении ионами Xe сверхвысоких энергийГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.; Веш, В.
1997Эволюция дефектов структуры в имплантированных мышьяком слоях Si1-xGexГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.; Комаров, Ф. Ф.