Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
| 2010 | Барьер для миграции собственных междоузельных атомов в кремнии, легированном бором | Макаренко, Л. Ф.; Молл, М.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Мурин, Л. И. |
| 2003 | Влияние гамма-излучения на накопление заряда в МОП-структурах при различных условиях | Богатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И. |
| 2012 | ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩЕЙ РАДИАЦИИ НА СУБМИКРОННЫЕ МОП-ТРАНЗИСТОРЫ | Богатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Турцевич, А. С.; Шведов, С. В.; Белоус, А. И. |
| 2003 | Влияние облучения гамма квантами на ВТСП Bi(Pb)2223 c различным содержанием кислорода | Шешолко, В. К.; Гуринович, В. А.; Коршунов, Ф. П. |
| 2007 | Влияние отжига радиационных дефектов на характеристики n+-р- структур на Si1-xGex:B | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.; Абросимов, Н. В. |
| 2001 | Влияние радиационных дефектов на параметры мощных биполярных транзисторных структур | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И.; Ануфриев, Л. П.; Рубцевич, И. И.; Голубев, Н. Ф. |
| 2012 | ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ОБЛУЧЕНИЯ (ТОБЛ = 320–580 К) БЫСТРЫМИ ЭЛЕКТРОНАМИ НА ЭФФЕКТИВНОСТЬ ФОРМИРОВАНИЯ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ | Медведева, И. Ф.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Гусаков, В. Е. |
| 2008 | Влияние электронного облучения при 300 / 800 К на параметры кремниевых p-n-структур | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Маркевич, В. П.; Мурин, Л. И.; Шпаковский, С. В. |
| 2013 | Влияние электронной подсистемы на протекание междоузельных реакций в облученном кремнии | Пинтилие, Л. И.; Макаренко, Л. Ф.; Коршунов, Ф. П. |
| 1999 | Деградация транспортного критического тока керамических ВТСП Y123 И Bi(Pb)2223 под действием гамма-облучения | Коршунов, Ф. П.; Шешолко, В. К.; Гуринович, В. А. |
| 2010 | Изменения параметров кремниевых p-n-структур, облученных быстрыми электронами при температурах 670-720 к | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Карась, В. И.; Ластовский, С. Б.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П. |
| 2014 | Инжекционный отжиг радиационно-индуцированного комплекса междоузельный бор-междоузельный кислород в кремниевых n+-p диодах | Ластовский, С. Б.; Коршунов, Ф. П.; Якушевич, А. С.; Латушко, Я. И.; Макаренко, Л. Ф. |
| 1999 | Использование радиационно-термической обработки для улучшения параметров силовых диодов | Коршунов, Ф. П.; Жданович, Н. Е.; Марченко, И. Г. |
| 2008 | Образование дефектов в запробежной области кремниевых структур, облученных альфа-частицами | Макаренко, Л. Ф.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Хиврич, В. И. |
| 2013 | Образование и отжиг радиационных дефектов в кремниевых и кремний-германиевых структурах, облученных альфа-частицами | Макаренко, Л. Ф.; Пинтилие, И.; Коршунов, Ф. П. |
| 2007 | Определение остаточных напряжений в поликристаллических покрытиях с использованием модифицированного sin2 метода | Алексеева, Т. А.; Злоцкий, С. В.; Коршунов, Ф. П.; Лазарь, А. П. |
| 2012 | ОСОБЕННОСТИ ПРЯМОЙ ВАХ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ КРЕМНИЕВЫХ N+-P-СТРУКТУР С ТОНКОЙ БАЗОЙ, ОБЛУЧЕННЫХ ЭЛЕКТРОНАМИ | Коршунов, Ф. П.; Марченко, И. Г.; Жданович, Н. Е. |
| 2001 | Отжиг ВТСП материалов Bi(Pb)2223, облученных гамма-квантами Со | Коршунов, Ф. П.; Шешолко, В. К.; Гуринович, В. А. |
| 2003 | Отжиг нелегированного арсенида галлия, облученного гамма-квантами Со60 и быстрыми электронами | Коршунов, Ф. П.; Курилович, Н. Ф.; Прохоренко, Т. А. |
| 2011 | ОТЖИГ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В ЭЛЕКТРОННО- ОБЛУЧЕННЫХ Mo/n-Si-СТРУКТУРАХ ШОТТКИ | Коршунов, Ф. П.; Марченко, И. Г.; Жданович, Н. Е. |