Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/48358
Заглавие документа: ION BOMBARDMENT TECHNIQUES - RECENT DEVELOPMENTS IN SIMS
Авторы: Konarski, Piotr
Miśnik, Maciej
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2013
Аннотация: New applications of ion bombardment in secondary ion mass spectrometry (SIMS) are reviewed. Recent development and application of cluster ion bombardment in SIMS method are discussed. Also discussed is recently developed, one of quantitative SIMS techniques – “storing matter” technique. Presented is new design quadrupole based SIMS spectrometer allowing to perform “storing matter” technique in one analytical chamber. Examples of depth profile analysis of Cr implanted inconel 600 alloy obtained with the use of ‘standard’ and ‘storing matter’ SIMS are presented.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/48358
Располагается в коллекциях:2013. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Konarski .pdf251,87 kBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.