Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/47571
Заглавие документа: Статистика электронов и дефектов в полупроводниковых материалах №УД-2048/баз.
Другое заглавие: Учебная программа для специальности 1-31 04 01 Физика (по направлениям) (1-31 04 01-01 научно-исследовательская деятельность)
Авторы: Поклонский, Николай Александрович
Тема: ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Дата публикации: 2009
Аннотация: Программа курса "Статистика электронов и дефектов в полупроводниковых материалах" разработана для специальности 1-31 04 01 Физика. Целью курса является обучение студентов основам статистической физики квазичастиц и точечных дефектов в полупроводниковых материалах. В курсе дается вывод основных статистических функций распределения. Рассматриваются равновесные свойства электронов, дырок в монокристаллических полупроводниках. Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронных состояний, а также статистика точечных атомных дефектов в кристаллической решетке и заполнение их энергетических уровней носителями заряда. Излагается статистический метод; рассматриваются равновесные свойства квазичастиц (электронов, дырок, фононов) в объемных образцах. Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронных состояний, а также статистика точечных дефектов в решетке и заполнение их энергетических уровней носителями заряда. рассматриваются также кинетические процессы с участием электронной и фононной подсистем кристалла. Разбираются вопросы миграции электронов по неподвижным точечным дефектам (примесям). Рассматривается роль точечных дефектов решетки в формировании термодинамических и кинетических свойств кристаллических твердых тел.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/47571
Располагается в коллекциях:Семестр 7. Статистика электронов и дефектов в полупроводниковых материалах

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Поклонский _01-17_УП_Статистика электронов и дефектов.pdf186,74 kBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.