Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/32008
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorДробот, И. Л.-
dc.contributor.authorРубанов, А. С.-
dc.date.accessioned2013-02-06T11:57:22Z-
dc.date.available2013-02-06T11:57:22Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationКвантовая электроникаru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/32008-
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleИсследование методами электронной сканирующей микроскопии поверхностной структуры голографических дифракционных решеток при различных условиях экспонирования и обработкиru
Располагается в коллекциях:2000. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
72.pdf14,15 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.