Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/25345
Заглавие документа: Стойкость к окислению резистов, полученных методом внедрения ионов в металлические матрицы на ситалловой подложке
Авторы: Комаров, Ф. Ф.
Поздеева, Т. В.
Колковский, В. И.
Тема: радиофизика и электроника
Дата публикации: 2003
Издатель: БГУ
Библиографическое описание источника: Радиофизика и электроника. Сборник научных статей.
Серия/Номер: Серия 6;
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/25345
Располагается в коллекциях:Статьи факультета радиофизики и компьютерных технологий

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
011.pdf96,36 kBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.