Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 46.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2008Моделирование оптических свойств гетерогенных сред с наночастицами, окруженными оболочками различного типаРухленко, О. В.; Комаров, Ф. Ф.; Леонтьев, А. В.
2004Лазерная и спектральная эллипсометрия тонких диэлектрических пленокКамышан, А. С.; Комаров, Ф. Ф.
2000Рекомбинация неравновесных носителей заряда в облученном высокоэнергетическими частицами кремнии, легированном германиемКолковский, И. И.; Комаров, Ф. Ф.
2000Особенности измерения объемного времени жизни носителей заряда фазовым методом и методом сдвоенных импульсов токаКолковский, И. И.; Комаров, Ф. Ф.; Фурманюк, Т. В.
2010Влияние режимов термообработки ионно- имплантированных слоев кремния на выход фотолюминесценции квантовых точек InAsКомаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мильчанин, О. В.; Гребень, М. В.
2004Остаточные дефекты в кремнии, имплантированном ионами бора и фосфораКомаров, Ф. Ф.; Джадан, М.; Гайдук, П. И.; Челядинский, А. Р.; Явид, В. Ю.; Жуковский, П. В.; Партыка, Я.; Венгерек, П.
2004Формирование нанокластеров и нанопор в SiO2 ионно-лучевыми методамиКомаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мудрый, А. В.; Комаров, А. А.; Мильчанин, О. В.; Гайдук, П. И.; Ювченко, В. Н.; Гречный, С. С.
2003Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовБорздов, В. М.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.; Комаров, Ф. Ф.; Зезюля, А. В.
27-апр-2012Ионная и фотонная обработка материалов : электронный учебно-методический комплекс / Ф. Ф. Комаров; БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологийКомаров, Ф. Ф.
2003Интенсивности рассеяния вторичных дырок в N-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовБорздов, В. Н.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.; Зезюля, А. В.; Комаров, Ф. Ф.; Малышев, В. С.