Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/233893
Заглавие документа: Распределение по глубине характеристик рамановского рассеяния в облученных ионами ксенона алмазах
Другое заглавие: Depth Prifiles of Raman Scattering Lines in Diamonds Irradiated with Xenon Ions / Nikolai Kazuchits, Olga Korolik, Mikhail Rusetsky, Vasili Kazuchits, Nikita Kirilkin
Авторы: Казючиц, Н. М.
Королик, О. В.
Русецкий, М. С.
Казючиц, В. Н.
Кирилкин, Н. С.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2019
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids : материалы 13-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 30 сент. – 3 окт. 2019 г. / редкол.: В. В. Углов (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2019. – С. 147-149.
Аннотация: Методом комбинационного рассеяния света (КРС) исследованы накопление и распределение радиационных повреждений в алмазе, имплантированном ионами Хе с энергией 167 МэВ. Вследствие радиационного повреждения алмазной решетки доминирующая линия КРС 1332 см-1 уменьшилась по интенсивности, ассиметрично уширилась и сместилась к меньшим частотам. С ростом флюенса облучения наблюдалось также уширение и низкочастотное смещение линий КРС от собственных дефектов в имплантированном слое. Установлена критическая концентрация вакансий, соответствующая аморфизации алмаза при облучении ионами Хе с энергией 167 МэВ. Показаны распределения напряжений за имплантированным слоем.
Аннотация (на другом языке): Accumulation of radiation damage and their depth profiles in diamonds implanted with 167 MeV xenon ions were studied using Raman scattering. Due to the radiation damage, dominating Raman line (1332 cm-1) decreased, asymmetrically broadened and shifted to lower frequencies. Raman lines associated with intrinsic defects demonstrate broadening and low-frequency shift with irradiation fluence increase. Critical vacancy concentration for diamond amorphization by 167 MeV xenon ions was determined. The stresses propagating behind the implanted layer to the sample depth were detected.
Доп. сведения: Секция 2. Радиационные эффекты в твердом теле = Section 2. Radiation Effects in Solids
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/233893
ISSN: 2663-9939
Располагается в коллекциях:2019. Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
147-149.pdf408,38 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.