Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/208828| Заглавие документа: | Микротвердость ковалентных полупроводников, легированных редкоземельными примесями |
| Авторы: | Бринкевич, Дмитрий Иванович Вабищевич, Сергей Ананьевич Вабищевич, Наталья Вячеславовна Просолович, Владислав Савельевич Янковский, Юрий Николаевич Явид, Валентин Юлианович |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2002 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2002. - № 1. – С. 53-56. |
| Аннотация: | The influence of the rare-earth doping on the microhardness of the Cz-silicon and Cz-germanium monocrystals has been studied. It is established that rare-earth atom (Dy, Er, Nd) clusters increase the microhardness of the covalent semiconductors. The decrease of the microhardness of silicon wafers from the monocrystal top take place because this elements are the effective getters for the background tecnological impurities. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/208828 |
| ISSN: | 0321-0367 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | 2002, №1 (январь) |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.