Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/205842
Заглавие документа: Особенности термической и радиационной деградации контактных структур на основе фаз внедрения
Другое заглавие: The features of thermal and radiation degradation of interstitial-phase-based contact structures / N.S.Boltovets, R.V.Konakova, V.V.Milenin, D.I.Voitsikhovskyi
Авторы: Болтовец, Н. С.
Конакова, Р. В.
Миленин, В. В.
Войциховский, Д. И.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2001
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 243-245.
Аннотация: Рассмотрено влияние комплексного воздействия быстрых термических отжигов (БТО) и у-радиации 60Со на параметры диодных чипов ZrBx(TIBx)-n-n^-Si и профили компонентов в контактах ZrBx(TIBx)-Si. БТО проводились в атмосфере водорода в течении 60C при температурах 400, 600, 800 и 950 °С. Облучение у-квантами 60Со проводилось в интервале доз 104-106 Р. Показано, что при терморадиационных обработках диодные чипы сохраняют свои свойства во всем диапазоне активных воздействий. Облучение у-квантами 60Со в интервале доз 104-106 P приводит к улучшению параметров диодных чипов ZrBx(TIBx)-n-n''-Si.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/205842
ISBN: 985-445-236-0
Располагается в коллекциях:2001. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
243-245.pdf707,25 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.