Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-5 из 5.
  • назад
  • 1
  • далее
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
1986Использование метода дифракции в сходящемся пучке для анализа структуры ближнего порядка тонких слоев аморфного веществаКомаров, Ф. Ф.; Корнейчик, В. В.; Тишков, В. С.
2000Концентрационные зависимости подвижности носителей заряда и удельного сопротивления в имплантированных сплавах Si1-xGexГайдук, И. И.; Чернявская, Ю. В.; Ларсен, А. Н.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.
1998Поведение мышьяка в сплавах Si1-xGex при быстром термическом отжигеГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.; Комаров, Ф. Ф.
1999Влияние мелкодисперсных включений алмаза на структуру электролитических пленок никеляГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.; Якубеня, С. Н.
1997Эволюция дефектов структуры в имплантированных мышьяком слоях Si1-xGexГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.; Комаров, Ф. Ф.