Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:

Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 27.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
сен-2011Моделирование технологических процессов субмикронной электроники для систем проектирования интегральных схемКомаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Миронов, А. М.; Заяц, Г. М.; Макаревич, Ю. В.; Мискевич, С. А.
сен-2006Формирование водородо-индуцированиых дефектов и их применение в технологиях микро- и оптоэлектроникиКомаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Миронов, А. М.
2000Аппроксимация эмиссионного тока электронов в диэлектрик затвора МОП-ПТАндреев, А. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Михей, В. Н.
1986Структура и электрофизические свойства кремния после имплантации сурьмы и импульсного отжига под слоем анодного окислаГайдук, П. И.; Комаров, Ф. Ф.; Соловьев, В. С.
1986Использование метода дифракции в сходящемся пучке для анализа структуры ближнего порядка тонких слоев аморфного веществаКомаров, Ф. Ф.; Корнейчик, В. В.; Тишков, В. С.
1998Эмиссия горячих электронов в подзатворный диэлектрик МОП-ПТ с высоколегированной подложкойАндреев, А. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Михей, В. Н.
1999Оптические свойства пленок ПММА, облученных легкими ионамиКомаров, Ф. Ф.; Леонтьев, А. В.; Гранько, С. В.; Григорьев, В. В.; Камышан, А. С.
1998О развитии плазменных исследований в БелгосуниверситетеКомаров, Ф. Ф.
2000Концентрационные зависимости подвижности носителей заряда и удельного сопротивления в имплантированных сплавах Si1-xGexГайдук, И. И.; Чернявская, Ю. В.; Ларсен, А. Н.; Тишков, В. С.; Комаров, Ф. Ф.
1998Поведение мышьяка в сплавах Si1-xGex при быстром термическом отжигеГайдук, П. И.; Тишков, В. С.; Ширяев, С. Ю.; Ларсен, А. Н.; Комаров, Ф. Ф.