Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 311-320 из 440.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2018Measurements of microstructural, chemical, optical, and electrical properties of silicon-oxygen-nitrogen films prepared by plasma-enhanced atomic layer depositionMa, H.-P.; Lu, H.-L.; Yang, J.-H.; Li, X.-X.; Wang, T.; Huang, W.; Yuan, G.-J.; Komarov, F.F.; Zhang, D.W.
2018Атмосферная коррекция данных, регистрируемых с борта МКС. Часть II. Методика для изображений и результаты примененияБеляев, М. Ю.; Беляев, Б. И.; Иванов, Д. А.; Катковский, Л. В.; Мартинов, А. О.; Рязанцев, В. В.; Сармин, Э. Э.; Силюк, О. О.; Шукайло, В. Г.
2018Spatial structure of electromagnetic field diffracted by a sub-wavelength slot in a thick conducting screenSerdyuk, V. M.; Titovitsky, J. A.; von Gratowski, S. V.; Koledov, V. V.
2018Атмосферная коррекция данных, регистрируемых с борта МКС. Часть I. Методика для спектровБеляев, М. Ю.; Беляев, Б. И.; Иванов, Д. А.; Катковский, Л. В.; Мартинов, А. О.; Рязанцев, В. В.; Сармин, Э. Э.; Силюк, О. О.; Шукайло, В. Г.
2019Application of multilayer carbon nanotubes for creation of coatings absorbing electromagnetic radiationShchegolkov, A.; Zavolokina, L.; Diesperova, N.; Parfimovich, I.
2020Спектрально-энергетическое разрешение спутниковых спектральных систем при съёмке малоконтрастных объектовКатковский, Л.В.
2020Method and results of comparing multilevel spectral reflectance measurements of various Earth surfacesKatkovsky, L.V.; Beliaev, B. I.; Beliaev, M.Yu.; Esakov, A.M.; Ivanov, D.A.; Martinov, A.O.; Siliuk, V.O.; Sarmin, E.E.
2021Influence of the order of ion implantation on luminescent spectrum of znse nanocrystalsBoichenko, A.; Kononenko, S.; Komarov, F.; Kalantaryan, O.; Zhurenko, V.; Avotin, S.; Rokhmanov, N.
2023Предэпитаксиальная обработка подложек GaAs для создания компонентной базы СВЧ микроэлектроникиКорякин, С. В.; Михалёнок, Е. В.
2023Радиационная стойкость высокоэнтропийного сплава Hf-Nb-Zr-Ti к высокотемпературному облучению ионами гелияКоваленко, М. О.; Углов, В. В.